线差法是一种用于测量光学元件表面形貌的方法，其具体步骤如下：
1. 将光束通过待测元件。
2. 在元件前后分别放置两个探测器。
3. 调整探测器的位置，使得两个探测器接收到的光强相等。
4. 测量两个探测器的位置差，这个差值即为线差。
5. 根据线差和光束的入射角度，计算出元件表面的高度变化。
例如，如果线差为1mm，入射角度为45度，那么可以计算出表面高度变化为1mm/cos（45°）≈1.41mm。
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